失效

电子元器件在使用过程中，常常会出现失效。失效就意味着电路可能出现故障，从而影响设备的正常工作。这里分析了常见元器件的失效原因和常见故障。 电子设备中大部分故障，究其最终原因都是由于电子元器件失效引起的。如果熟悉了元器件的失效原因，及时定位到元器件的故障原因，就能及时排除故障，让设备正常运行。 温度导致失效 元件失效的重要因素之一就是环境温度对元器件的影响。 温度变化对半导体器件的影响 由于P-N结的正向压降受温度的影响较大，所以用P-N为基本单元构成的双极型半导体逻辑元件（TTL、HTL等集成电路）的电压传输特性和抗干扰度也与温度有密切的关系。

问题：为什么未遭受压力的器件有时候会无缘无故地失效？ 答案：有时候器件可以"寿终正寝"，有时候器件在制造前后往往面临诸多危害，这将导致它们过早失效。 器件的"寿终正寝"是一种源于物理或化学变化的累积性衰退效应。比如我们常用的电解电容和某些类型的薄膜电容"终有一死"，原因是在微量杂质（氧气等）和电压力的共同作用下，其电介质会发生化学反应。集成电路结构遵循摩尔定律，变得越来越小，正常工作温度下的掺杂物迁移导致器件在数十年（而非原来的数百年）内失效的风险在提高。

作为各种元器件的载体与电路信号传输的枢纽，PCB已经成为电子信息产品的最为重要而关键的部分，其质量的好坏与可靠性水平决定了整机设备的质量与可靠性。但是由于成本以及技术的原因，PCB在生产和应用过程中出现了大量的失效问题。 对于这种失效问题，我们需要用到一些常用的失效分析技术，来使得PCB在制造的时候质量和可靠性水平得到一定的保证，本文总结了15个失效分析技术案例及10种解决办法，供参考借鉴。

在上一篇文章“收藏此文，再也不为元器件失效分析发愁了（一）”中，我们讲解了电阻器类和电容器类的失效模式以及失效机理。本文中，我们将讲解电感、变压器类和集成块类的失效模式以及失效机理。 电感和变压器类 此类元件包括电感、变压器、振荡线圈和滤波线圈等。

电子使用过程中，常常会出现失效和故障，影响设备的正常工作。文本分析了常见元器件的失效原因和常见故障。 电子设备中绝大部分故障最终都是由于电子元器件故障引起的。如果熟悉了元器件的故障类型，有时直接就可以迅速找出故障元件，有时只需通过简单的电阻或电压测量即可找出故障。 电阻器类 电阻器类元件包括电阻元件和可变电阻元件，固定阻值电阻通常称为电阻器，可变阻值电阻通常称为电位器。

MOS管是金属氧化物半导体场效应晶体管的缩写，或称金属绝缘体半导体。MOS管的源极和漏极是可以对调的，他们都是在P型衬底中形成的N型区。在多数情况下，这个两个区是一样的，即使两端对调也不会影响器件性能。所以这样的器件是对称的。 目前在市场应用方面，排名第一的是消费类电子电源适配器产品，而MOS管的应用领域排名第二的是计算机主板、NB、计算机类适配器、LCD显示器等产品。随着国情的发展，计算机主板、计算机类适配器、LCD显示器对MOS管的需求有超过消费类电子电源适配器的现象了。 第三的就属网络通信、工业控制、汽车电子以及电力设备领域了，这些产品对于MOS管的需求也是很大的，特别是现在汽车电子对于MOS管的需求直追消费类电子了。