失效

电子元器件在使用过程中，常常会出现失效。失效就意味着电路可能出现故障，从而影响设备的正常工作。这里分析了常见元器件的失效原因和常见故障。

电子设备中大部分故障，究其最终原因都是由于电子元器件失效引起的。如果熟悉了元器件的失效原因，及时定位到元器件的故障原因，就能及时排除故障，让设备正常运行。

<strong>温度导致失效</strong>

元件失效的重要因素之一就是环境温度对元器件的影响。

<strong>温度变化对半导体器件的影响</strong>

由于P-N结的正向压降受温度的影响较大，所以用P-N为基本单元构成的双极型半导体逻辑元件（TTL、HTL等集成电路）的电压传输特性和抗干扰度也与温度有密切的关系。当温度升高时，P-N结的正向压降减小，其开门和关门电平都将减小，这就使得元件的低电平抗干扰电压容限随温度的升高而变小；高电平抗干扰电压容限随温度的升高而增大，造成输出电平偏移、波形失真、稳态失调，甚至热击穿。

构成双极型半导体器件的基本单元P-N结对温度的变化很敏感，当P-N结反向偏置时，由少数载流子形成的反向漏电流受温度的变化影响，其关系为：

<strong><font color="#004a85">问题：为什么未遭受压力的器件有时候会无缘无故地失效？</font> </strong>

答案：有时候器件可以"寿终正寝"，有时候器件在制造前后往往面临诸多危害，这将导致它们过早失效。

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在上一篇文章<a href="http://mouser.eetrend.com/content/2019/100044315.html"&gt;“收藏此文，再也不为元器件失效分析发愁了（一）”</a>中，我们讲解了电阻器类和电容器类的失效模式以及失效机理。本文中，我们将讲解电感、变压器类和集成块类的失效模式以及失效机理。

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<strong>电感和变压器类</strong>

电子使用过程中，常常会出现失效和故障，影响设备的正常工作。文本分析了常见元器件的失效原因和常见故障。

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电子设备中绝大部分故障最终都是由于电子元器件故障引起的。如果熟悉了元器件的故障类型，有时直接就可以迅速找出故障元件，有时只需通过简单的电阻或电压测量即可找出故障。

<strong>电阻器类</strong>

MOS管是金属氧化物半导体场效应晶体管的缩写，或称金属绝缘体半导体。MOS管的源极和漏极是可以对调的，他们都是在P型衬底中形成的N型区。在多数情况下，这个两个区是一样的，即使两端对调也不会影响器件性能。所以这样的器件是对称的。

目前在市场应用方面，排名第一的是消费类电子电源适配器产品，而MOS管的应用领域排名第二的是计算机主板、NB、计算机类适配器、LCD显示器等产品。随着国情的发展，计算机主板、计算机类适配器、LCD显示器对MOS管的需求有超过消费类电子电源适配器的现象了。

第三的就属网络通信、工业控制、汽车电子以及电力设备领域了，这些产品对于MOS管的需求也是很大的，特别是现在汽车电子对于MOS管的需求直追消费类电子了。

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