史密斯英特康发布Volta 180系列探针头提升晶圆测试方案性能 winniewei / 周一, 30 十一月 2020 - 15:17 史密斯英特康作为全球领先的半导体测试解决方案供应商,今天发布全新 Volta180 测试头扩大Volta产品线,支持市场对更小间距的晶圆尺寸,晶圆级芯片封装和已知合格芯片(Known Good Die)的测试需求。 阅读更多 关于 史密斯英特康发布Volta 180系列探针头提升晶圆测试方案性能登录或注册以发表评论