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测试

直播报名开启 | 为芯片质量保驾护航:谈谈芯片测试和DFT

cathy 提交于

10月20日晚19点,我们特别邀请到无锡玖熠半导体科技有限公司产品市场总监赵瑜斌、广东利扬芯片测试股份有限公司董事/总经理亦锋做客贸泽电子芯英雄联盟直播间,与大家围绕“芯片测试和DFT”展开讨论,欢迎预约围观!

【资料下载】开关电源常规测试项目

cathy /

<strong>开关电源常规测试项目目录</strong>

1、功率因素和效率测试
2、平均效率测试
3、输入电流测试
4、浪涌电流测试
5、电压调整率测试
6、负载调整率测试
7、输入缓慢变动测试
8、纹波及噪声测试
9、上升时间测试
10、下降时间测试
11、开机延迟时间测试
12、关机维持时间测试
13、输出过冲幅度测试
14、输出暂态响应测试
15、过流保护测试
16、短路保护测试
17、过压保护测试
18、重轻载变化测试
19、输入电压变动测试
20、电源开关循环测试
21、元件温升测试/
22、高温操作测试
23、高温高湿储存测试
24、低温操作测试
25、低温储存测试
26、低温启动测试
27、温度循环测试
28、冷热冲击测试
29、绝缘耐压测试
30、跌落测试
31、绝缘阻抗测试
32、额定电压输出电流测试

测试驱动硬件开发:是对是错?

cathy /

关于硬件设计有许多观点,其中更为人们所认可的一条是,越早发现错误越好。然而,在传统的“先设计后验证”流程中,开始纠错之前,错误有充分的时间嵌入设计中。其实不必如此。

我们可以借鉴软件领域的一项技术——测试驱动开发 (TDD) ,通过局部修改设计流程来解决这个问题(图1)。在 TDD 中,你需要在编写代码之前为每个代码单元开发测试工具。

这样的顺序调整听起来似乎没有什么意义。但是越来越多的设计团队发现 TDD 带来了巨大的变化:缩短了设计时间,提高了质量,并使他们能够更好地应对漏洞和功能安全等新问题。

开关电源一定要通过的9个极限测试!

cathy /

<strong>1、反复短路测试</strong>

<strong>测试说明</strong>

在各种输入和输出状态下将模块输出短路,模块应能实现保护或回缩,反复多次短路,故障排除后,模块应该能自动恢复正常运行。

<strong>测试方法</strong>

a、空载到短路:在输入电压全范围内,将模块从空载到短路,模块应能正常实现输出限流或回缩,短路排除后,模块应能恢复正常工作。让模块反复从空载到短路不断的工作,短路时间为1s,放开时间为1s,持续时间为2小时。这以后,短路放开,判断模块是否能够正常工作。

b、满载到短路:在输入电压全范围内,将模块从满载到短路,模块应能正常实现输出限流或回缩,短路排除后,模块应能恢复正常工作。让模块从满载到短路然后保持短路状态2小时。然后短路放开,判断模块是否能够正常工作。

c、短路开机:将模块的输出先短路,再上市电,再模块的输入电压范围内上电,模块应能实现正常的限流或回缩,短路故障排除后,模块应能恢复正常工作,重复上述试验10次后,让短路放开,判断模块是否能够正常工作。

<strong>判定标准</strong>