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NI宣布与SET GmbH和Tech180进行战略合作

winniewei /

NI公司（NASDAQ：NATI），与航空航天和国防领域测试系统专业供应商SET GmbH和Tech180 Inc.共同宣布了一项战略合作，致力于颠覆传统军工测试系统的设计、开发和维护。三家公司将共同提供一项崭新的测试系统构建方法，涉及全新的产品、硬件和软件框架、开（源）放式系统参考架构以及创新型的需求导向工程方法论。

NI在汽车领域的开拓性测试技术荣获Frost＆Sullivan全球卓越创新奖

winniewei /

根据对全球自动驾驶汽车和电动汽车测试市场的最新分析，Frost＆Sullivan授予NI 2020年全球卓越创新奖。NI在不同产品开发阶段（例如设计，验证，原型设计和制造）的测试中发挥着至关重要的作用。

玩转开关时间、谐波、互调失真测试？这一篇就够了！

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<strong>关于射频芯片测试的那些事</strong>

<strong><a href="http://mouser.eetrend.com/content/2018/100012312.html&quot; style="color:#FF0000;">插入损耗、隔离度、开关时间、谐波……哪个是射频开关测试痛点？</a></strong>
<strong><a href="http://mouser.eetrend.com/content/2018/100012337.html&quot; style="color:#FF0000;">到底怎么测试插入损耗、隔离度和驻波比，其实很简单！</a></strong>

到底怎么测试插入损耗、隔离度和驻波比，其实很简单！

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我们发布了射频芯片测试重要性的文章后<strong><font color="#FF0000"><a href="http://mouser.eetrend.com/content/2018/100012312.html">插入损耗、隔离度、开关时间、谐波……哪个是射频开关测试痛点？</a></font> </strong>就有粉丝在后台问，在射频芯片测试中一头雾水，能不能具体讲解下各个测试项目？小编正有此意，今天先跟大家讲解下插入损耗、隔离度和驻波比这三个非常重要的射频芯片测试项目。

<strong>1、插入损耗Insertion Loss</strong>

对于很多射频无源器件来说，插入损耗是其中一个关键的测试项目。在一个系统之中，由于某个器件的插入而发生的功率的损耗便是插入损耗，通常插入损耗由dB来表示。

插入损耗、隔离度、开关时间、谐波……哪个是射频开关测试痛点？

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也许大家已经注意到，随着无线设备复杂性急剧增加，手机支持的频段数量也在不断增加。从最开始的2个GSM频段，到现在的4个GSM频段，3个CDMA频段，5个UMTS频段和10个LTE频段。未来，诸如5G New Radio等标准将继续增加无线设备的复杂性。开关是射频前端模块（RF FEM）切换多个频段的关键元件，所以，我们今天要讨论的话题就是射频开关测试方法

<center><img src="http://mouser.eetrend.com/files/2018-07/wen_zhang_/100012312-43734-n1.j…; alt=“典型射频前端模块”></center><center><i>典型射频前端模块</i></center>

<strong>关于射频开关，这些你知道吗？</strong>

在一个典型的射频前端模块中，包括功率放大器（PA）、低噪放大器（LNA），多路器，收发开关和天线开关等。

4种智能测试方法，让您保持领先优势

cathy /

<strong><font color="#FF0000">作者：NI高级产品营销经理Jonah Paul</font> </strong>

回想您过去作为工程师的一年：您的角色发生了何种变化？ 过去五年又发生了哪些变化？ 随着技术变革的步伐不断加快，您必须调整工作的各个方面，并提高效率。

在Aspencore（前称UBM）2015年进行的一项测试和测量研究中，包括半导体、汽车、国防和航天航空在内的多个行业的工程师列出以下几个方面为其测试开发演变过程中最主要的变化：

“适应快速变化的技术，为终端用户提供测试能力和价值。”

“在更短的时间内设计更复杂的产品”

“获得可根据最新标准进行测试的设备。”

“跟上高速通信和网络带宽（即100GE、400GE等）”。

“保持测试最新一代产品的能力，而不用花费大量资金在即将过时的专用仪器上。”

这些挑战中哪一个最让您和您的工程团队感到压力？ 产品规格的快节奏变化迫使

您用相同或更少的预算来扩展工作台和生产线。 软件对于您驾驭这些新的工程规则至关重要 - 不仅仅是跟上步伐，更要蓬勃发展。

使用NI PXI源测量单元，实现更智能的测试

editor Chen /

NI为自动化测试和实验室特性分析应用提供了各种源测量单元(SMU)。 这些SMU兼具传统台式SMU的功能和测量性能，同时采用NI技术，使其更小巧、更快速且更灵活。 NI SMU小巧的组成结构和模块化特性使其成为并行IV测试系统重要仪器，可帮助您在19英寸4U机架空间内开发高达68个通道的高通道数解决方案。 模块化PXI平台使您能够通过PXI背板触发这些源测量单元SMU，以同步与其他仪器的测量，包括高速数字I/O仪器、射频分析仪、发生器、高速数字化仪。

<strong>1. 多样的硬件选择</strong>
NI提供了多种SMU组成结构。 这些模块满足了从为通用自动化测试供电到对半导体设备执行参数测试等各种测试和特性分析需求。 下表列出了NI的各款SMU。

<strong>系统SMU</strong>
SMU之所以可以得到广泛的应用是因为它将高功率、高精度、高速源测量功能集成到单个SMU通道上。 这些仪器提供了20W的连续直流电源和高达500W的瞬时脉冲功率。

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