见证可测性设计DFT平台变革!合见工软UniVista Tespert“家族”上新 winniewei / 周五, 11 七月 2025 - 15:40 合见工软现有产品已覆盖数字芯片EDA工具、系统级工具及高端IP,是国内唯一一家可以完整覆盖数字芯片验证全流程,DFT可测性设计全流程,并同时提供先进工艺高速互联IP的国产EDA公司。 阅读更多 关于 见证可测性设计DFT平台变革!合见工软UniVista Tespert“家族”上新登录 发表评论
西门子推出 Tessent In-System Test,在硅片全生命周期内实现先进的确定性测试 winniewei / 周二, 12 十一月 2024 - 14:06 西门子数字化工业软件日前推出 Tessent™ In-System Test 软件,作为一款突破性的可测试性设计 (DFT) 解决方案,旨在增强下一代集成电路 (IC) 的系统内测试能力。 阅读更多 关于 西门子推出 Tessent In-System Test,在硅片全生命周期内实现先进的确定性测试登录 发表评论
西门子发布 Tessent RTL Pro 强化可测试性设计能力 winniewei / 周四, 19 十月 2023 - 11:47 西门子数字化工业软件近日推出 Tessent™ RTL Pro 创新软件解决方案,旨在帮助集成电路 (IC) 设计团队简化和加速下一代设计的关键可测试性设计 (DFT) 任务。 阅读更多 关于 西门子发布 Tessent RTL Pro 强化可测试性设计能力登录 发表评论
直播报名开启 | 为芯片质量保驾护航:谈谈芯片测试和DFT 由 cathy 提交于 周四, 12 十月 2023 - 10:46 阅读更多 关于 直播报名开启 | 为芯片质量保驾护航:谈谈芯片测试和DFT 10月20日晚19点,我们特别邀请到无锡玖熠半导体科技有限公司产品市场总监赵瑜斌、广东利扬芯片测试股份有限公司董事/总经理亦锋做客贸泽电子芯英雄联盟直播间,与大家围绕“芯片测试和DFT”展开讨论,欢迎预约围观!
直播报名开启 | 为芯片质量保驾护航:谈谈芯片测试和DFT cathy / 周日, 8 十月 2023 - 15:35 ┃ 直播详情 ┃ 阅读更多 关于 直播报名开启 | 为芯片质量保驾护航:谈谈芯片测试和DFT登录 发表评论
为什么ASIC设计流程中的可测性设计(DFT)很重要? winniewei / 周五, 24 十二月 2021 - 10:48 可测性设计(DFT)本质上是设计过程中的一个步骤,在这个过程中测试功能会被添加到硬件里。虽然这些功能对性能提升来说不是必须的,但作为测试制造过程的关键一步,它们确保了芯片在产品中能够正常运行。 阅读更多 关于 为什么ASIC设计流程中的可测性设计(DFT)很重要?登录 发表评论
合见工软DFT平台再次革新:国产自研工具助力先进工艺及复杂架构芯片开发测试 winniewei / 周一, 29 六月 2026 - 09:08 中国数字EDA/IP龙头企业上海合见工业软件集团股份有限公司宣布其可测性设计(DFT)全流程平台UniVista Tespert系列推出两款全新工具 阅读更多 关于 合见工软DFT平台再次革新:国产自研工具助力先进工艺及复杂架构芯片开发测试登录 发表评论