测量

就产品质量和生产环境的清洁度而言，半导体行业是一个要求很高的行业。金属污染对芯片有害，所以应避免裸晶圆片上有金属污染。本文的研究目的是交流解决裸硅圆片上金属污染问题的经验，介绍如何使用互补性测量方法检测裸硅圆片上的少量金属污染物并找出问题根源，解释从多个不同的检测方法中选择适合方法的难度，以及用寿命测量技术检测污染物对热处理的依赖性。

在放大器电路中，总会有一些常见误差困扰这我们，比如——

◎ 输入失调电压产生的输入误差，而且这个误差还会跟随温度的变化而变化……

◎ 输入偏置电路在源组件和反馈组件中传导产生的误差，这个误差在高阻抗电路中是一个关键问题……

◎输入和输出范围有限而引起的误差……

如何尽可能的减少这些误差呢？ 今天为大家推荐的视频探究了 零漂移放大器LTC2063，可在极低的功率级别实现精准测量哦~

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<strong><font color="#FF0000">作者：株式会社村田制作所　组件事业总部　S.K</font> </strong>

<strong>1.关于电容器的发热</strong>

随着电子设备的小型化・轻量化，部件的安装密度高，放热性低，装置温度易升高。尤其是功率输出电路元件的发热虽对设备温度的上升有重要影响，但电容器通过大电流的用途(开关电源平滑用、高频波功率放大器的输出连接器用等)中起因于电容器损失成分的功率消耗变大，使得自身发热因素无法忽视。因此应在不影响电容器可靠性的范围内抑制电容器的温度上升。

理想的电容器是只有容量成分，但实际的电容器包括电极的电阻因素、电介质的损失、电极电感因素，具体可用图1中的等价电路表示。

在混频过程中，混频器在其输出端上产生的并不只是所期望的信号。位于输入和 LO 频率之整数倍上的其他无用信号也会出现在混频器的所有端口上。这些寄生信号接着又相互混频并离开混频器的输出端口而进入信号链路的其余部分。此类不希望有的输出信号被称为 “杂散脉冲”。假如这些杂散脉冲的功率足够高，那就会在射频设计中引发很多问题，例如：发送器中相邻通道的污染、接收器中的灵敏度损失、或期望信号自身的失真。视系统要求的不同，有多种处理此类问题信号的方法。谨慎的频率规划和滤波虽然能够有助于大幅度减少杂散脉冲的数量，但是它们总是会有。因此，系统设计师必需在混频器输出端上准确地测量杂散电平，以确定怎样用最佳的方式应对它们，这一点是很重要。

测量混频器杂散并不是简单的事。常常有可能盲目地相信某个 “测得的” 信号来自于有关的混频器，但实际上它却是某种不当测试设置的人为产物。幸运的是，有一些用于缓解这些测试问题并确保观察到的测量信号仅来自于混频器的方法。图 1 示出了用于测量混频器杂散分量的正确测试设置。带通滤波器以及衰减器对于尽量减少测试设置对在频谱分析仪上测量之杂散脉冲的影响是至关重要。

众所周知，LED对驱动电源的要求非常高，除了要求驱动电源必须有高可靠性、高功率因数和高效率以外，还要求驱动电源要在安全保护上有周密的设计，除了能支持浪涌保护，还要支持过热、防水、防潮、EMC/EMI等等，要实现这些功能，电源品质的测试至关重要，这里泰克行业渠道开发经理王跃伟分享了泰克在LED驱动电源测试方面的一些列方案，旨在帮助工程师设计出高可靠高性能高效率LED驱动电源。

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