盛密科技推出适用于半导体制程气体泄露监测的氧气电化学传感器4SM O2-LF

12月26日——盛密科技经过技术人员的不懈努力,于今日正式发布全新的4SM系列氧气电化学传感器:4SM O2-LF。

该传感器顺利通过了全套严苛的性能验证。我们来看看它的各项性能。

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响应曲线

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上图是25只4SM O2-LF传感器对空气的响应曲线,可以看出基线稳定,T90≤15s,曲线平稳,回零快

分辨率

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上表是15只4SM O2-LF传感器的测试结果,2倍STDEV≤0.1% VOL O2

线性

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上图为公式处理前。

氧气传感器的输出信号经对数处理后便会呈现极好的线性,所以建议以理论公式y=K*Ln(1/(1-c))处理,下图为公式处理后的线性曲线。

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上图是25只4SM O2-LF传感器通入N2气体、5%Vol、10%Vol、20.9%Vol、25%Vol和30%Vol的O2气体的测得结果,在0~30%Vol. O2线性好,线性判决系数R2为0.9999

重复性

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上图是25只4SM O2-LF传感器分别6次通入空气的输出信号,当输出稳定之后记录输出值,6次的相对标准偏差RSD均小于0.3%,重复性很好

暴露测试

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上图是25只4SM O2-LF传感器通入25%Vol. O2气体30分钟的测试结果,平均变化率在1.5%以内。

交叉干扰

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总结

氧气用于在硅片表面生长二氧化硅,是最重要的绝缘层、保护层、介电层。可以在高温下帮助去除硅片表面的杂质与有机物,提高晶圆洁净度。在干法刻蚀或灰化工艺中,氧气用于分解光刻胶、提高刻蚀反应效率,是半导体制造过程中不可或缺的重要原料之一。

盛密科技又新增一种半导体制程可探测的气体种类,填补了产品空白。

来源:盛密科技