【爱普特 APT32F110 ev board 试用测评连载】开箱实验A- IC内部温度实验

使用内部温度传感器,在LCD显示实时温度变化

感谢电子创新网提供平台,感谢爱普特提供的硬件与CDK编译器;看了一下技术资料,与DEMO 的例子,大概熟悉了硬件与软件结构,就直接上手吧。遇到问题再解决。这样对新的IC平台有进一步认识。

 1. 开箱评估套件图:

image001.jpgimage003.jpg


2. 安装CDK 编译器:

熟悉的界面,

image005.png

熟悉快捷的查找方式,快速查找变量/函数使用的位置:

image007.png

 3. DEMO例子程序默认使用DISP_TEMP_275 外部温度传感器,我想使用IC内部温度传感器,按照程序的思路进行修改;

 在do_config.h文件里定义了二类传感器方式: 

image009.png

先找到初始函数,如图默认使用275外部温度传感器:

image011.png

修改为IC内部温度传感器:

image013.png


 4. 连接好硬件,下载连接方式是仿真器P2 pin to pin 连接到评估板P3。 

image015.png


5. 另外,为了让LCD显示实时的温度,程序去掉了低功耗功能

image017.png


6. 准备就绪,把修改好的程序下载评估板

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7.使用IC内部传感器,LCD上已经显示当前温度

image021.png

本次实验完成,具体的效果有短视频观察,谢谢!

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