西门子推出 Tessent In-System Test,在硅片全生命周期内实现先进的确定性测试 winniewei / 周二, 12 十一月 2024 - 14:06 西门子数字化工业软件日前推出 Tessent™ In-System Test 软件,作为一款突破性的可测试性设计 (DFT) 解决方案,旨在增强下一代集成电路 (IC) 的系统内测试能力。 阅读更多 关于 西门子推出 Tessent In-System Test,在硅片全生命周期内实现先进的确定性测试登录 发表评论