如何为ATE应用创建具有拉电流和灌电流功能的双输出电压轨 winniewei / 周四, 27 四月 2023 - 14:37 本文详细介绍一种创建双输出电压轨的方法，该方法能为设备电源(DPS)提供正负电压轨，并且只需要一个双向电源。传统的设备电源供电方法使用两个双向（拉电流和灌电流能力）电源，一个为正电压轨供电，一个为负电压轨供电。这种配置不但笨重，且成本高昂。 阅读更多 关于 如何为ATE应用创建具有拉电流和灌电流功能的双输出电压轨登录 发表评论
干货 | 基于新型MEMS开关提高SoC测试能力及系统产出 winniewei / 周一, 28 十一月 2022 - 13:51 本文将介绍ADGM1001 SPDT MEMS开关如何助力一次性通过单插入测试，以帮助进行DC参数测试和高速数字测试，从而降低测试成本，简化数字/RF片上系统(SoC)的测试流程。 阅读更多 关于 干货 | 基于新型MEMS开关提高SoC测试能力及系统产出登录 发表评论
贸泽电子联合ADI举办ATE在线研讨会，打造高效测试解决方案 cathy / 周五, 8 一月 2021 - 13:50 专注于引入新品并提供海量库存的电子元器件分销商贸泽电子 ( Mouser Electronics ) 近日宣布将携手ADI于1月12日下午14:00-15:30举办一期主题为“ADI助力半导体测试设备成长”的在线研讨会。届时，来自ADI 的技术专家将与观众探讨分享特定于ATE 应用的丰富产品线以及相应的参考设计方案，让工程师们能够更好的了解半导体自动测试设备，进一步提升测试实用技能。 <center><img src="http://mouser.eetrend.com/files/2021-01/wen_zhang_/100060809-118765-1.p…; alt=“” width="600"></center> 阅读更多 关于 贸泽电子联合ADI举办ATE在线研讨会，打造高效测试解决方案登录 发表评论
贸泽电子联合ADI举办ATE在线研讨会，打造高效测试解决方案 winniewei / 周四, 7 一月 2021 - 09:44 贸泽电子 (Mouser Electronics) 宣布将携手ADI于1月12日下午14:00-15:30举办一期主题为“ADI助力半导体测试设备成长”的在线研讨会。届时，来自ADI 的技术专家将与观众探讨分享特定于ATE 应用的丰富产品线以及相应的参考设计方案，让工程师们能够更好的了解半导体自动测试设备，进一步提升测试实用技能。 阅读更多 关于 贸泽电子联合ADI举办ATE在线研讨会，打造高效测试解决方案登录 发表评论
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