为刻蚀终点探测进行原位测量 winniewei / 周五, 19 一月 2024 - 16:28 使用SEMulator3D®工艺步骤进行刻蚀终点探测 阅读更多 关于 为刻蚀终点探测进行原位测量登录 发表评论
泛林硅部件推动产业发展 winniewei / 周一, 30 八月 2021 - 11:36 刻蚀一直是硅芯片制造的一道重要工艺步骤。为了制造我们日常使用的智能手机、笔记本电脑等各种功能日新月异的电子设备,如今芯片制造商越来越需要采用极高深宽比的刻蚀工艺来生产3D闪存和动态随机存取存储器(DRAM)芯片。这种情况下,对刻蚀设备的要求越来越高,而泛林提供的高性能刻蚀设备已经成为实现这些工艺的有力保障。 阅读更多 关于 泛林硅部件推动产业发展登录 发表评论
泛林小课堂 | 揭秘半导体制造全流程(中篇) winniewei / 周三, 4 八月 2021 - 11:08 本期,我们将继续探索半导体制造过程中的两大关键步骤:刻蚀和薄膜沉积。 阅读更多 关于 泛林小课堂 | 揭秘半导体制造全流程(中篇)登录 发表评论