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脉冲
脉冲 I V 测试在 MOSFET 器件表征中的应用与实现
在晶体管器件的研发阶段,制造商通常需要对设计原型进行电学特性评估。直流(DC)测试是最常见的方法,但对于许多半导体器件而言,只有脉冲或短时导通(开关)激励条件下,才能更真实地反映其实际工作行为。