Nordson-TEST-&-INSPECTION

Nordson Test & Inspection在2023年上海国际半导体展上推出新一代离线X光检测系统
Nordson TEST & INSPECTION宣布，将于2023年6月29日至7月1日在上海新国际博览中心举行的2023年上海国际半导体展览会(SEMICON China)上推出全新Quadra 7 Pro离线X光检测(MXI)系统，展位号为E3014。