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IEC新增滤波器材料透过率标准，三安方案推动全球产业链工艺革新
国际电工委员会（IEC）正式发布了《声表面波器件用单晶晶片规范与测量方法》（IEC 62276:2025），首次明确了压电材料的光学性能标准。三安滤波器晶体团队以在材料端的研发经验，在关于透过率（晶片黑化程度）的相关技术要求和相应测量方法中做出重要贡献。