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将于2019年4月1日至3日在北京国家会议中心(CNCC)举办的电子设计创新大会(EDI CON CHINA)邀请了3位专家在10点开始的开幕全体会议上发表主旨演讲。3位专家分别是:Steve Sandler,世界领先的电源完整性专家、Picotest创始人兼CTO;Kailash Narayanan,是德科技(大会首席赞助商)全球副总裁;Alexander Pabst,罗德与施瓦茨(钻石赞助商)副总裁。
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4月1日星期一必听的主旨演讲

“射频、微波和高速电路中的功率相关因素”

Steve Sandler,

Founder & CTO Picotest

“用于网络设备制造、芯片组和设备的5G测试和测量技术”

Kailash Narayanan,

Global VP, Keysight

“5G新无线电测试和测量挑战以及应对方法”

Alexander Pabst,

Vice President Systems and Projects, Rohde & Schwarz

EDI CON China汇集了射频、微波、EMC/EMI以及高速数字领域的工程师和系统集成商,展开交流、培训和学习。快来获取重要的前沿信息、到展厅内寻找可以立即使用的解决方案、产品和设计理念。
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