芯片测试挑战要用数据来破解
在泰瑞达举办的2023媒体沟通会上,泰瑞达亚太区销售副总裁Richard Hsieh表示,芯片测试产业面临着诸多挑战,同时也存在很大的机遇。他指出:“芯片设计越来越复杂,晶体管数量越来越多,测试也越来越复杂;为满足加快上市时间的要求,就要增加同测数,这将导致接口设计变得更加复杂。
在泰瑞达举办的2023媒体沟通会上,泰瑞达亚太区销售副总裁Richard Hsieh表示,芯片测试产业面临着诸多挑战,同时也存在很大的机遇。他指出:“芯片设计越来越复杂,晶体管数量越来越多,测试也越来越复杂;为满足加快上市时间的要求,就要增加同测数,这将导致接口设计变得更加复杂。
集成了先进数据分析解决方案的安全边缘平台,实现测试流程的优化
全球先进的自动测试设备供应商泰瑞达(NASDAQ:TER)宣布,受邀出席了SEMICON China 2023同期举办的“先进封装论坛 - 异构集成”活动。
中国研究生创“芯”大赛秘书处、安徽大学、合肥工业大学组团访问泰瑞达合肥分公司
全球先进的自动测试设备供应商泰瑞达宣布,受邀出席了中国集成电路设计业年会(简称ICCAD)。
全球先进的自动测试设备供应商泰瑞达宣布,分别与合肥工业大学和福州大学建立了集成电路自动测试大学项目,基于Magnum V和测试机J750系列建立的课程体系已正式开课。
近日,在泰瑞达(TERADYNE)的媒体沟通会上,泰瑞达中国区销售副总经理黄飞鸿为媒体们回顾了芯片测试设备的发展历史,并对其未来做出了展望。