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吉时利专家讲解半导体C-V测试基础知识

半导体电容-电压(C-V)测试基础本文为吉时利专家Lee Stauffer讲解的半导体电容-电压(C-V)测试基础知识,半导体电容-电压(C-V)测试广泛用于测量半导体参数,尤其是MOSCAP和MOSFET结构。此外,利用C-V测量还可以对其他类型的半导体器件和工艺进行特征分析,包括双极结型晶体管(BJT)、JFET、III-V族化合物器件、光伏电池、MEMS器件、有机TFT显示器、光电二极管、碳纳米管(CNT)和多种其他半导体器件。
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