Actel提升RTAX FPGA的性能和可用性

RTAX-S/SL系列FPGA爱特公司 (Actel Corporation) 宣布进一步提升其业界领先之耐辐射RTAX-S和RTAX-SL航天用FPGA的性能和可用性,为航天应用设计人员带来更大优势。RTAX-S/SL 系列FPGA能够免除与耐辐射ASIC相关的成本和进度表风险,是需要防止辐射引发单事件翻转 (single-event upset, SEU) 事件保护功能的航天应用的首选FPGA。

RTAX-S/SL系列FPGA的性能提升包括:
相比 RTAX-S FPGA 产品,RTAX-SL FPGA 系列能减少静态功耗达 80%。当飞行器在电池供电模式运行 (例如当穿越地球阴影的部分时),系统进入待机模式并需要保持寄存器和存储器状态时,静态功耗节省便尤其重要。

提高400万门RTAX4000S FPGA的速度等级,将具有最大型 SEU 保护功能的,耐辐射FPGA 的性能提高了10%。
全新低功耗RTAX4000SL FPGA采用CQFP352和CGA/LGA 1272封装,相比RTAX4000S FPGA,静态功耗降低达50%。

RTAX250S/SL FPGA采用全新624脚CCGA和LGA封装,为设计人员增加17% 的可用I/O,节省 50% 以上的占位面积。新推出的器件均通过MI- STD-883 Class B、Actel Extended flow、以及Actel EV flow (与QML Class V的处理步骤相同) 等规范进行的测试。

RTAX-S/SL FPGA能耐受更高的结温(达135°C),为设计人员提供额外10°C的缓冲,可让器件更快地或在更高的温度下运作。

关于RTAX FPGA

RTAX-S/SL拥有高性能、低功耗、真正单芯片封装,以及单芯片上的上电运行等特点,为航天应用设计人员的首选FPGA平台。RTAX-S/SL系列具有最多四百万个等效系统门,和840个用户I/O的高密度。其无需用户介入运行的抗单事件翻转 (SEU) 触发器设计能实现抗辐射性能,而且不费分毫就获得需由用户置入的三芯片冗余 (TMR) 设计所得的相同优势。RTAX-S/SL FPGA系列提供比ASIC更快的设计流程,并免除与使用ASIC所带来的高昂前期工具成本以及冗长生产周期等问题。与耐辐射ASIC相比,RTAX FPGA系列提供更低的拥有成本和进度表风险,特别适合小批量航天应用。

要了解有关RTAX-S/SL FPGA的更多信息,请访问网页 http://www.actel.com/products/milaero/rtaxs/default.aspx